一种半导体二极管质检装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体二极管质检装置，包括方体，所述方体内部开设有凹槽，所述凹槽内部转动连接有圆盘，所述圆盘外壁固定连接有固定板，所述固定板外壁开设有条形槽，所述条形槽内部滑动连接有滑块，所述滑块外壁远离条形槽一侧固定连接活动杆，所述活动杆远离滑块一端铰接有滑板。本实用新型通过在方体顶部开设有第一稳定槽，第一稳定槽长度与第二稳定槽长度相等，第一稳定槽宽度小于第二稳定槽宽度，使稳定块无法从第二稳定槽内部滑出，连接杆的加入，使活动块可以带动滑板运动，滑槽的加入，使滑板的运动轨迹得到限制，滑块的截面形状设置为圆形，使滑块和条形槽之间的摩擦阻力大大降低。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体二极管质检装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022410059.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN213398774U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
华国铭
申请人 ：
苏州福摩斯电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市相城区黄埭镇太东路2996号1号厂房2楼西
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022410059.1
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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