检查装置
实质审查的生效
摘要
一种检查装置具备：图像生成部，将在电磁波的照射线上通过的被检查物的一维的透过信号在存储器上展开为二维的图像；图像处理部，每当在图像生成部中生成包括被检查物的一部分的部分图像时，将该部分图像设为对象进行图像处理；以及检查部，基于图像处理部的一次或多次处理结果，检查图像处理后的部分图像的品质。
基本信息
专利标题 ：
检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114467023A
申请号 ：
CN202080066160.X
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2020-07-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
畑野良太
申请人 ：
株式会社石田
申请人地址 ：
日本京都
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
沈丹阳
优先权 ：
CN202080066160.X
主分类号 ：
G01N23/18
IPC分类号 ：
G01N23/18 G01N23/083 G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/18
申请日 : 20200714
申请日 : 20200714
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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