在低光子计数成像条件下提高信噪比的STED显微镜方法
公开
摘要
本发明涉及一种用于生成结果图像的方法。所述方法包括以下步骤：获取样本的STED图像，所述STED图像包括像素；针对图像的像素计算到达时间的傅立叶系数，得到表示第一图像的实部系数和表示第二图像的虚部系数；从STED图像得出强度图像；将空间滤波器应用于第一图像、第二图像和强度图像，得到各自的经滤波的图像；基于经滤波的第一图像和经滤波的强度图像计算图像G；基于经滤波的第二图像和经滤波的强度图像计算图像S；根据两个图像G和S计算结果图像。
基本信息
专利标题 ：
在低光子计数成像条件下提高信噪比的STED显微镜方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114556090A
申请号 ：
CN202080070738.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2020-10-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
路易斯·阿尔瓦雷斯弗兰克·赫克特
申请人 ：
莱卡微系统CMS有限责任公司
申请人地址 ：
德国威茨勒
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
宋融冰
优先权 ：
CN202080070738.9
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G06T5/10 G06T5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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