一种宽光谱高效率超导单光子探测器及其制备方法
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摘要

本发明公开了一种宽光谱高效率超导单光子探测器及其制备方法,包括超导纳米线单元、电极、玻璃插芯、玻璃板套夹和光纤,光纤包括纤芯和包层;光纤嵌入在玻璃插芯内,玻璃插芯呈一定角度嵌入在玻璃板套夹内,该光纤、玻璃插芯和玻璃板套夹的端面均处于同一水平面上;超导纳米线单元设置在光纤的上表面并覆盖住纤芯;电极设置在包层上表面并位于超导纳米线单元两侧;本发明通过将超导纳米线单光子探测器设计在光纤端面,可制备得到宽光谱响应、高效率的光纤端面超导纳米线单光子探测器,大幅度提高了超导单光子探测器的集成度,降低了工艺制作步骤,从而扩展了应用领域。

基本信息
专利标题 :
一种宽光谱高效率超导单光子探测器及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113252167A
申请号 :
CN202110544264.3
公开(公告)日 :
2021-08-13
申请日 :
2021-05-19
授权号 :
CN113252167B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
张蜡宝戴越谢臻达贾琨鹏费越汪小涵陈奇李飞燕何广龙涂学凑康琳吴培亨
申请人 :
南京大学
申请人地址 :
江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
代理机构 :
南京苏高专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
颜盈静
优先权 :
CN202110544264.3
主分类号 :
G01J1/44
IPC分类号 :
G01J1/44  G01J1/42  G03F1/78  G03F7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2022-05-17 :
授权
2021-08-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/44
申请日 : 20210519
2021-08-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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