基于深度学习的正电子湮没角关联测量方法及装置
授权
摘要
本发明涉及一种基于深度学习的正电子湮没角关联测量方法及装置,属于核探测技术领域,解决了现有测量方法对器件的性能要求高、测量效率低的问题。该方法包括获取样本训练集;基于样本训练集对深度神经网络模型进行优化;利用伽马光子探测装置探测待测样品中电子与正电子湮没所产生的两个伽马光子对应获得两个二维数组;利用优化好的深度神经网络模型基于两个二维数组分别获得两个伽马光子的入射位置坐标;根据所述入射位置坐标及待测样品的位置坐标获得对应的立体湮没角,并根据该立体湮没角获得待测样本对应的二维正电子湮没角关联谱,该方法将湮没角测量与深度学习相结合,提高了定位效率,即保证了测量精度,又减少了测量时间开销。
基本信息
专利标题 :
基于深度学习的正电子湮没角关联测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113390913A
申请号 :
CN202110649116.8
公开(公告)日 :
2021-09-14
申请日 :
2021-06-10
授权号 :
CN113390913B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
况鹏胡誉刘福雁曹兴忠于润升王宝义张鹏魏龙
申请人 :
中国科学院高能物理研究所
申请人地址 :
北京市石景山区玉泉路19号乙
代理机构 :
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
庞许倩
优先权 :
CN202110649116.8
主分类号 :
G01N23/225
IPC分类号 :
G01N23/225 G01T1/36 G06N3/04 G06N3/063 G06N3/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
法律状态
2022-04-12 :
授权
2021-10-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/225
申请日 : 20210610
申请日 : 20210610
2021-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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