组合样品及其制备方法
授权
摘要
本申请实施例公开了一种组合样品及其制备方法,其中,制备方法包括:将样品承载部放置于承载台上;所述样品承载部包括基底和至少一个格栅,所述栅格位于所述基底背离所述承载台的一侧;在所述格栅中形成凹槽;所述凹槽具有第一侧壁,所述第一侧壁与所述基底垂直;将待减薄样品粘贴于所述凹槽的第一侧壁上,得到组合样品;所述待减薄样品的粘贴面与所述基底呈第一预设角度,所述第一预设角度为锐角;利用聚焦离子束,对所述待减薄样品进行减薄处理。
基本信息
专利标题 :
组合样品及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113466268A
申请号 :
CN202110734404.3
公开(公告)日 :
2021-10-01
申请日 :
2021-06-30
授权号 :
CN113466268B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
董旭林郭伟
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 :
徐雯
优先权 :
CN202110734404.3
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008 G01N23/04 G01N23/20025 G01N23/20058 G01N1/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2022-06-07 :
授权
2021-10-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20008
申请日 : 20210630
申请日 : 20210630
2021-10-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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