本公开提供了一种量子门测试方法、装置及电子设备，涉及量子技术等领域。具体方案为：获取N个第一量子门序列的N个第一控制脉冲序列，每个第一量子门序列中包括待测量子门，基于幅值对应关系对N个第一控制脉冲序列进行校准得到N个目标脉冲序列，幅值对应关系基于幅值对集合拟合确定，幅值对集合中的每个幅值对包括一个模拟幅值以及对应的一个真实实验幅值，模拟幅值为基于目标量子硬件的哈密顿量生成的基本量子门的脉冲幅值；将N个目标脉冲序列输入目标量子硬件进行测试得到待测量子门在目标量子硬件中的测试结果。得到的目标脉冲序列更加适配目标量子硬件，可提高在目标量子硬件上测试的准确性。