一种厚膜混合集成电路产品烘烤参数的确定方法
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摘要

本发明公开一种厚膜混合集成电路产品烘烤参数的确定方法,包括取样步骤、样品称重步骤、水汽定量测量步骤和水汽定性测量步骤,在厚膜混合集成电路产品上取粘接胶样品;将样品放置于热失重分析仪内称取初始样品的重量,用热失重分析仪对样品进行加热,使样品挥发出水汽,当样品的重量不再变化后,称量出最终样品的重量,并将各时段样品的重量和加热温度数据导入至显示屏上;用红外光谱仪对样品挥发出的水汽进行红外光谱检测,对水汽进行定量分析,将水汽的各成分的浓度数据导入至显示屏上;用气质联用仪对水汽进行定性检测,并利用曲线方程,可分别得到水汽中各成分以及各成分所对应的相对浓度值,并将各成分及其相对浓度数据导入至显示屏上。

基本信息
专利标题 :
一种厚膜混合集成电路产品烘烤参数的确定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113670766A
申请号 :
CN202110950941.1
公开(公告)日 :
2021-11-19
申请日 :
2021-08-18
授权号 :
CN113670766B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
王晓卫祝涵陈如平
申请人 :
深圳市振华微电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新技术工业村W1号厂房3层B1、2层B1区
代理机构 :
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司
代理人 :
罗华
优先权 :
CN202110950941.1
主分类号 :
G01N5/04
IPC分类号 :
G01N5/04  G01N21/3554  G01N30/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N5/00
用称量的方法分析材料,例如称量从气体或液体分离出的微粒
G01N5/04
通过除去某种组分,例如通过蒸发并称量其剩余物
法律状态
2022-04-05 :
授权
2021-12-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 5/04
申请日 : 20210818
2021-11-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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