本申请涉及陶瓷元件介质陶瓷晶格缺陷检测领域，公开了一种间接检测MLCC介质陶瓷晶格缺陷的方法。该方法包括如下步骤：准备材料：根据需求准备测试夹具、高温老化箱、安培表、万用表、绝缘测定机；安装待测品：将待测品串联安装在测试夹具上；确认状态：确认待测品安装状态良好；调节测试条件：将待测品放入高温老化箱并预设测试温度与测试电压；设定取值时间：设定电流采集取值时间间隔；开启测试：开启高温老化箱，待温度达到预设值后使老化箱处于保温状态进行测试；定时取值：根据预定时间间隔对待测品的电流取值；计算各时刻的绝缘阻值。通过上述方式，可有效的间接检测出MLCC介质陶瓷晶格缺陷，且操作简单直观。