电子装置和检查电子装置的方法
公开
摘要
本公开涉及电子装置和检查电子装置的方法。所述电子装置包括电连接到电路板的输入传感器。所述输入传感器包括：第一信号线，连接到第一感测电极；第二信号线，连接到第二感测电极的一端；以及第三信号线，连接到所述第二感测电极的另一端。所述电路板包括：第一组信号线，包括电连接到所述第一信号线的一端；第二组信号线，包括电连接到所述第二信号线的一端；第三组信号线，包括电连接到所述第三信号线的一端以及电连接到所述第二组信号线的另一端；第一检查信号线，包括电连接到所述第二组信号线的一端；以及第二检查信号线，包括电连接到所述第三组信号线的一端。
基本信息
专利标题 ：
电子装置和检查电子装置的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384345A
申请号 ：
CN202111158794.0
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朴栽贤金珉洪朴正睦李知荣赵炫昱
申请人 ：
三星显示有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道龙仁市
代理机构 ：
北京钲霖知识产权代理有限公司
代理人 ：
李英艳
优先权 ：
CN202111158794.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R27/02 G09G3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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