本申请案是针对目标测试不通过注入。存储器装置可包含被配置成测试存储器阵列的一或多个存储器单元的自测试电路系统。所述自测试电路系统可被配置成基于来自所述存储器装置的模式寄存器的指示而存储在所述存储器阵列的测试期间未通过的一或多个地址。所述自测试电路系统可被配置成不通过所述所存储的一或多个地址而不考虑所述一或多个存储器地址处的所述测试的结果。举例来说，当所存取的地址在测试期间匹配存储的地址时，所述自测试电路系统可产生所述所存取的地址未通过所述自测试程序的一或多个测试的指示。基于所述自测试电路系统不通过所述所存储的地址，可验证所述存储器阵列的测试。