一种存储单元的擦除方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明涉及半导体集成电路技术领域,具体公开了一种存储单元的擦除方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括以下步骤:检查存储单元中待擦除的操作区域的数据,并将数据调整一致;擦除操作区域使操作区域的阈值电压均在第一调节电压以下;擦除操作区域使操作区域的阈值电压均在目标阈值电压的上限以下;擦除操作区域使操作区域的阈值电压均在第二调节电压以下,并对操作区域进行后编程,以使操作区域的阈值电压在目标阈值电压范围内;该方法有效缩小了该操作区域的阈值电压的分布区域,从而提高了该操作区域的阈值电压的一致性,并提高了存储单元的擦除效率,有利于该存储单元后续进行写、擦操作。

基本信息
专利标题 :
一种存储单元的擦除方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114283864A
申请号 :
CN202111399854.8
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-11-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐明揆吴彤彤温靖康
申请人 :
成都博尔微晶科技有限公司;芯天下技术股份有限公司
申请人地址 :
四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道中段666号2栋8楼802号
代理机构 :
佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈志超
优先权 :
CN202111399854.8
主分类号 :
G11C13/00
IPC分类号 :
G11C13/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C13/00
特征在于使用不包括在G11C11/00,G11C23/00或G11C25/00各组内的存储元件的数字存储器
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 13/00
申请日 : 20211119
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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