擦除存储器阵列上存储单元的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供了一种擦除存储器阵列上存储单元的方法，该方法包括向存储单元阵列的单元集合的比特施加擦除脉冲，并仅在被擦除的单元集合的一个子群上执行擦除校验操作，以检查存储单元阈电压(Vt)是否已经降低至一擦除校验(EV)电压水平。
基本信息
专利标题 ：
擦除存储器阵列上存储单元的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1838328A
申请号 ：
CN200610005996.0
公开（公告）日 ：
2006-09-27
申请日 ：
2006-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿萨夫·沙比尔
申请人 ：
赛芬半导体有限公司
申请人地址 ：
以色列内坦亚市
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁纪铁
优先权 ：
CN200610005996.0
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G11C16/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2009-04-08 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-11-22 ：
实质审查的生效
2006-09-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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