用于补偿设备中磁干扰源对磁场传感器的测量的影响的方法和设...
公开
摘要
提出一种用于补偿设备100中磁干扰源120对磁场传感器125的测量的影响的方法，该设备具有用于检测环境温度的温度传感器135，以及提出一种设备。该方法设置，根据借助磁干扰源的补偿因子
补偿在所测量到的环境温度Tk下借助磁场传感器所测量到的磁通密度M1，其中，对应于
并且M0是与参考温度T0相关的参考磁通密度，其中，a对应于针对磁干扰源所使用的磁性材料所定义的材料参数，其中，借助非线性延迟参数将所测量到的环境温度Tk校正到磁干扰源的温度T′k上。所提出的方法尤其用于基于轴的温度漂移补偿，其中，在此针对每个直角坐标轴单独确定材料参数a。
基本信息
专利标题 ：
用于补偿设备中磁干扰源对磁场传感器的测量的影响的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578270A
申请号 ：
CN202111441044.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·张S·斯里帕德P·穆罕默德
申请人 ：
罗伯特·博世有限公司
申请人地址 ：
德国斯图加特
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭毅
优先权 ：
CN202111441044.4
主分类号 ：
G01R33/00
IPC分类号 ：
G01R33/00 H04R25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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