一种基于磁控溅射的复合薄膜应变计及其制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于磁控溅射的复合薄膜应变计,该复合薄膜应变计包括不锈钢基底、氧化铝绝缘层、镍铬合金薄膜应变层、环氧导电胶、氧化铝保护层和铜导线,本发明采用磁控溅射沉积薄膜,薄膜致密均匀,稳定性高,测量应变性能好,在低温环境中受外界环境影响小;本发明采用光刻掩膜版图形化应变栅方案,适用于在小尺寸部件及精度要求高的部件表面图形化应变栅,图形小精度高,操作流程简单;本发明应变层应变栅图形由四个相同的基本应变栅单元组成,任意一个横向和纵向成对可以与外部电路相接构成惠斯通电桥实现具备温度补偿作用的应力的测量,同时还可以实现对四个基本应变栅单元的电阻进行单独测量。

基本信息
专利标题 :
一种基于磁控溅射的复合薄膜应变计及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322740A
申请号 :
CN202111470222.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨成韬孙尚毅徐康才
申请人 :
电子科技大学长三角研究院(湖州)
申请人地址 :
浙江省湖州市西塞山路819号南太湖科技创新综合体B2幢8层
代理机构 :
北京金智普华知识产权代理有限公司
代理人 :
郭美
优先权 :
CN202111470222.6
主分类号 :
G01B7/16
IPC分类号 :
G01B7/16  G01L1/22  C23C14/00  C23C14/08  C23C14/16  C23C14/35  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/16
用于计量固体的变形,例如电阻应变仪
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/16
申请日 : 20211203
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332