本发明公开了一种电子器件电磁辐射测量方法及测量系统，该方法包括步骤：对试验对象进行尺寸扫描和近场扫描，确定试验对象尺寸边界表面A和近场磁场数据；根据试验对象尺寸边界表面A和近场磁场数据，建立初步的等效磁偶极子模型，并进行实时仿真，得到仿真数据；测量试验对象的远场电场数据，将远场电场数据与仿真数据进行比对，若两者的差值超出预设数值，则对初步的等效磁偶极子模型进行修正；当远场被测点位达到一定数量后，且远场被测点位的远场电场数据与对应的仿真数据之间的差值均小于预设值时，则输出最终的等效磁偶极子模型，以此获取其它空间点位或区域的辐射场信息。本发明具有测量精度高以及测量效率高等优点。