本发明公开了一种芯片模块最优参数选择的自学习优化方法，本方法是一种快速自动化算法，用于芯片各配置参数遍历组合，以选择一组用于保证芯片整体性能最优的外部激励配置及芯片配置调优参数，特别适用于对输入模拟参数敏感的低功耗微控制器(以下简称MCU)芯片模拟模块与数模接口模块性能验证的自动化测试。本方法由数据分析自学习算法与程控自动采集平台两部分组成。数据分析自学习算法通过程控自动采集平台调整待评估芯片各项参数，获得性能指标反馈，得到不同参数的工作环境范围，从而分析得知性能与工作范围平衡后的最优参数；根据批量芯片分析结果更新数据，建立标准数据库，有选择性的进行参数与工作环境范围对新的芯片扫描，节约测试时间，在偏离标准曲线时提出预警。