一种固体材料中氚含量的测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种固体材料中氚含量的测量方法,包括,S1:将被测对象置于平行电极板之间,改变电极板两端的电压参数,获取多组能谱数据;S2:计算在不同电场强度下,β射线诱发的X射线能谱数据;S3:建立多能谱组合反演模型,构建总射线能谱与不同深度的射线能谱在电场下的函数关系,基于不同电场强度下的反演模型,求解氚在不同深度的分布情况。本发明的优点在于:通过加高压的手段对测量谱进行增强,避免在测量过程中产生较大的误差,为后续的数据反演提供了保障,提高了反演计算的准确率。

基本信息
专利标题 :
一种固体材料中氚含量的测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371496A
申请号 :
CN202111534622.9
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
肖丹陈思泽梅华平韩运成章勇张思纬张早娣李桃生
申请人 :
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 :
安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
代理机构 :
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
叶濛濛
优先权 :
CN202111534622.9
主分类号 :
G01T1/185
IPC分类号 :
G01T1/185  G01T1/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/185
用电离室装置
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/185
申请日 : 20211215
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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