双面研磨装置和双面研磨方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种双面研磨装置,用于对硅片的相对的两面进行研磨,包括:环状承载结构,用于沿径向从外周侧支撑硅片;相对设置的两个静压支撑件,两个静压支撑件分别位于硅片的两侧,通过流体静压,非接触支撑硅片;相对设置的两个磨轮,用于对硅片的相对的两面进行研磨,两个所述静压支撑件中包括第一静压支撑件和第二静压支撑件,所述第一静压支撑件用于吸附研磨后的硅片;还包括对所述第一静压支撑件进行清洁的清洁结构。本发明还涉及一种双面研磨方法。通过清洁结构的设置,对用于吸附硅片的静压支撑件进行清洁,避免影响晶圆的平滑度。

基本信息
专利标题 :
双面研磨装置和双面研磨方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114274041A
申请号 :
CN202111597504.2
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙介楠贺云鹏
申请人 :
西安奕斯伟材料科技有限公司;西安奕斯伟硅片技术有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区西沣南路1888号1-3-029室
代理机构 :
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 :
姜精斌
优先权 :
CN202111597504.2
主分类号 :
B24B37/08
IPC分类号 :
B24B37/08  B24B37/28  B24B37/34  B24B7/22  B24B55/06  H01L21/67  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B37/00
研磨机床或装置;附件
B24B37/04
适用于加工平面的
B24B37/07
以工件或研具的运动为特征
B24B37/08
用于双侧研磨
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 37/08
申请日 : 20211224
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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