磁通门磁强计阵列的校正对准方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种磁通门磁强计阵列的校正对准方法，该方法以其中一个磁通门磁强计的测量坐标系为基准采用遗传算法来进行多个磁通门磁强计的对准，定义平均差模量作为对准过程中遗传算法的适应度函数，提供一种不需要测量旋转角度、不要求平台机械坐标系正角度的校正对准方法。本发明有效解决了以往方法存在的需要三轴旋转无磁转台辅助测量的问题，简化了磁通门磁强计阵列校正对准的参数求解过程，具有实际意义。
基本信息
专利标题 ：
磁通门磁强计阵列的校正对准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280523A
申请号 ：
CN202111605920.2
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王宏波董笙雅金煌煌庄志洪凌姐丫
申请人 ：
南京理工大学
申请人地址 ：
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 ：
南京理工大学专利中心
代理人 ：
陈鹏
优先权 ：
CN202111605920.2
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211225
申请日 : 20211225
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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