一种器件的高低温自动测试系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种器件的高低温自动测试系统,包括机台,机台上设有密封罩,密封罩连接有低温环境箱和高温环境箱,低温环境箱和高温环境箱内分别设有低温料仓和高温料仓,低温环境箱和高温环境箱与密封罩内部分别以低温仓门和高温仓门隔离,密封罩还连接有进出料仓,进出料仓与密封罩内部以常温仓门隔离,进出料仓设有进出料门,机台上设有用于测试器件的高低温测试装置,机台中部设有多关节机械手,密封罩和进出料仓连接有空气干燥装置。本发明可根据需要设定低温料仓和高温料仓的温度,满足测试要求,通过多关节机械手可自动从低温料仓、高温料仓、进出料仓和高低温测试装置处取放器件实现器件的高低温条件下自动测试,大大提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种器件的高低温自动测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355135A
申请号 :
CN202111618913.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金英杰刘强梁志贤方高松
申请人 :
广东世坤智能科技有限公司
申请人地址 :
广东省清远市高新区科技创新园创兴大道18号天安智谷展示服务中心自编41号
代理机构 :
广州高炬知识产权代理有限公司
代理人 :
景梅
优先权 :
CN202111618913.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211227
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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