一种陶瓷穿孔固定低漏电测试探针卡
授权
摘要
本实用新型公开了一种陶瓷穿孔固定低漏电测试探针卡，包括从上至下依次设置的固定板、探针组件、框体和介面层，所述探针组件包括陶瓷基座和多个探针，所述陶瓷基座中心设置有开口和多个针限位槽，多个所述针限位槽相向分布在开口两侧且均与开口连通，所述探针放置于针限位槽内，位于两侧的所述探针针尖交错设置且均位于开口上方，所述针限位槽远离开口一端设置有针穿过孔，结构简单、装配效率高，能检测到更低的漏电值，使环境对探针卡的影响降低。
基本信息
专利标题 ：
一种陶瓷穿孔固定低漏电测试探针卡
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121889192.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-08-12
授权号 ：
CN216285378U
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
尹斌
申请人 ：
苏州矽利康测试系统有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区东富路38号3幢三层
代理机构 ：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾品荧
优先权 ：
CN202121889192.8
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2022-04-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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