本实用新型公开一种半导体刮擦探针结构，包括测试底座，所述测试底座上设有弹性体，所述弹性体上开设有穿孔，所述穿孔上插有探针，所述探针的两端分别位于穿孔两侧，且探针的两端分别向探针两侧弯斜。其中弹性体可为橡胶材质。与现有技术相比，本实用新型的优点在于：本实用新型结构简单，在投入使用的时候，将被测试元件放入测试底座，此时探针的第一端由于受到向下的力，使得弹性体发生形变，使得探针旋转，此时被测试元件的电流从探针的第一端流向第二端至PCB测试板上，完成测试，本实用新型的探针使用弹性体来完成伸缩，能够增加本实用新型的使用寿命。