一种高频电路测试平台
授权
摘要
本实用新型公开了一种高频电路测试平台，包括：底座（1）、运动滑台、探针平台（3）、作业平台（5）及显微镜（4），其中：所述作业平台（5）固定在底座（1）上平面中间位置；所述运动滑台固定在底座（1）上平面上，所述运动滑台设置在所述作业平台（5）四周；所述探针平台（3）通过滑轨设置在所述运动滑台上，所述探针平台（3）上固定有探针（6）；所述显微镜（4）通过连杆设置在作业平台（5）正上方，用于对作业平台（5）上的高频电路进行放大。本实用新型通过控制运动滑台，实现探针平台在作业平台区域内运动，同时运用电子显微镜进行观察，实现测试工作，达到快速拆卸和安装功能，提高了效率。
基本信息
专利标题 ：
一种高频电路测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122379968.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-29
授权号 ：
CN216351065U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
习华东曹徵鉴肖攀
申请人 ：
成都九洲迪飞科技有限责任公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区天府大道中段1366号2栋7层15-21号、8层12-18号
代理机构 ：
成都金英专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
詹权松
优先权 ：
CN202122379968.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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