一种分区式晶体管老化系统
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摘要

本发明涉及晶体管老化技术领域,尤其涉及一种分区式晶体管老化系统,包括老化台,老化台上设有控制模块、若干相互独立的老化工作区以及各个老化工作区所配套的老化电源、极性转换开关、报警装置,老化工作区内设有工位组,工位组上放置待测试晶体管,工位组通过驱动模块与控制模块连接。各个老化工作区设有可开关的柜门。老化工作区内设有温度传感器。老化台还设有水冷循环装置,水冷循环装置为分区设置,分别对各个老化工作区的温度进行调节。本发明具有如下有益效果:通过分区式的老化工作区以及分区的水冷循环装置,可以在老化台上同时模拟不同的老化环境,实现在同一时间在不同老化环境下对晶体管进行老化测试。

基本信息
专利标题 :
一种分区式晶体管老化系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122503721.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-23
授权号 :
CN216310187U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
冯晓岩
申请人 :
杭州精瑞科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市莫干山路1418-38号1幢3层302室(上城科技工业基地)
代理机构 :
浙江新篇律师事务所
代理人 :
王嘉
优先权 :
CN202122503721.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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