一种功率晶体管的老化装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种功率晶体管的老化装置,属于晶体管老化技术领域,包括壳体、老化机构、承托机构和温度控制机构,壳体内设有老化腔,壳体的前端设有箱门,老化机构包括固定板和分隔板,分隔板呈水平设置在老化腔内且分隔板的中部设有连接孔,固定板位于连接孔处且固定板的前端与分隔板的下端铰接,固定板的上端设有电路板,固定板的下端设有若干个晶体管老化测试座,所有晶体管老化测试座均与电路板电性连接。本实用新型通过温度控制机构、加湿喷头和作动器的配合工作能够改变晶体管老化的环境,能够对晶体管进行高温存储、高低温冲击、高温功率老化、机械震动、湿热检测,本实用新型对晶体管的老化检测更加全面,且方便操作。
基本信息
专利标题 :
一种功率晶体管的老化装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920952017.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-24
授权号 :
CN210442469U
授权日 :
2020-05-01
发明人 :
黄峰荣张玉凡曾绍娟
申请人 :
遂宁合芯半导体有限公司
申请人地址 :
四川省遂宁市船山区物流港玫瑰大道东侧春晓路73号苏哈瑞涛科技园2号厂房
代理机构 :
北京国昊天诚知识产权代理有限公司
代理人 :
顾惠忠
优先权 :
CN201920952017.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-06-07 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20190624
授权公告日 : 20200501
终止日期 : 20210624
申请日 : 20190624
授权公告日 : 20200501
终止日期 : 20210624
2020-05-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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