本实用新型公开了一种检测硅片灰尘计数设备，包括底部检测箱，所述底部检测箱上表面任意一侧中部位置贯穿固定连接有第二固定连接块，所述底部检测箱上表面中部位置固定连接有限位滑轨，所述限位滑轨与第二固定连接块呈垂直设置，所述限位滑轨上表面位置设置有固定调节装置，所述固定调节装置包括检测基座，所述限位滑轨位置滑动连接有滑座，且滑座上表面与检测基座转动连接，所述检测基座上表面位置设置有凹槽，且凹槽内设置有待测硅片，所述检测基座上表面位于待测硅片两侧位置开设有两个对称设置的取放孔，通过取放孔方便取放待测硅片。本实用新型可以使得清洗后的硅片进行抽样检测，观察硅片表面的灰尘量，方便了解硅片的清洗情况。