一种微控制器芯片的检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及微控制器芯片检测技术领域的一种微控制器芯片的检测装置，包括工作台，所述工作台的顶部设有两个芯片固定机构，所述工作台的两侧处均设有引静电机构，所述工作台的底部外壁通过螺栓固定有检测工具箱，所述工作台台面的一侧外壁固定连接有L形的安装板，安装板的顶部内壁通过螺栓固定有多个照明灯，所述工作台的顶部外壁固定连接有两个侧块，两个侧块之间插接有同一个万用表。本实用新型可以对微控制器芯片进行可靠固定，且可以根据微控制器芯片的规格来调节固定，提高了装置的适用性，装置还可以对工作台进行消静电处理，避免静电对微控制器芯片进行损坏。
基本信息
专利标题 ：
一种微控制器芯片的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122736577.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-10
授权号 ：
CN216351078U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
郑云华
申请人 ：
合肥矽景电子有限责任公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园A3楼516室
代理机构 ：
苏州大智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵枫
优先权 ：
CN202122736577.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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