虚焊检测设备和虚焊检测系统
授权
摘要
本实用新型公开一种虚焊检测设备和虚焊检测系统。其中，虚焊检测设备包括机架、探针测温机构以及升降机构；探针测温机构可在定位机构的上方升降，并具有间隔设置的第一探针、第二探针以及测温仪，探针测温机构下降，以使第一探针和第二探针分别用于与锂电池模组上的一正极柱和一负极柱接触，以对锂电池模组充放电，且测温仪用于检测锂电池模组的温度；升降机构设于机架，并与探针测温机构传动连接，以驱动探针测温机构升降。本实用新型技术方案提供了一种可提高检测的可靠性，并且不会损伤锂电池模组的虚焊检测设备。
基本信息
专利标题 ：
虚焊检测设备和虚焊检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122799329.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-15
授权号 ：
CN216747905U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
占根生王志伟
申请人 ：
深圳市铭镭激光设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区立新路2号天佑创客产业园B栋淇升厂厂房5号1层、2层和3层
代理机构 ：
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司
代理人 ：
王韬
优先权 ：
CN202122799329.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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