一种硅片检验操作台
授权
摘要

本实用新型属于硅片检验装置技术领域,尤其为一种硅片检验操作台,包括主体组件、操作台组件和照明组件,主体组件包括桌体,且桌体的下表面四角均固定安装有支撑架,操作台组件包括气囊,操作台组件通过气囊安装在桌体的上表面,气囊的上表面固定安装有操作板,且操作板上刻有标注线,照明组件固定安装在桌体的一侧中间位置,通过在操作板的下表面四周均安装有气囊,通过调节气囊的充气量,进而便于对操作板的水平度进行调节,且通过安装有照明灯,便于对操作板的上表面提供照明,方便进行检验,且通过丝杠和驱动电机,便于对照明灯的高度进行灵活调节,进而适用于不同的光照要求,方便使用,适用性强。

基本信息
专利标题 :
一种硅片检验操作台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122813321.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-17
授权号 :
CN216348371U
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
张红莲李维超
申请人 :
济南潼鑫电子科技有限公司
申请人地址 :
山东省济南市章丘市工业园六号路
代理机构 :
北京华沛德权律师事务所
代理人 :
曹洪进
优先权 :
CN202122813321.1
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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