一种集成电路检测用老化考核装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路检测用老化考核装置，涉及集成电路老化考核技术领域，为解决现有集成电路在老化考核后需要人员手动放入箱体内取出检测物件，导致容易与箱体内壁触碰被烫伤的问题。所述耐温老化箱主体的前端设置有密封门组件，所述密封门组件的一侧设置有控制面板主体，所述密封门组件的前方设置有摄像头，所述耐温老化箱主体的内部设置有电动滑轨机构，所述电动滑轨机构的上端设置有检测板，所述耐温老化箱主体的上表面设置有热量回收管，且热量回收管与耐温老化箱主体焊接连接，所述耐温老化箱主体的后端设置有滑轨控制箱。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路检测用老化考核装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122919630.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
CN216595402U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
邢小亮
申请人 ：
无锡优微科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号G8-405
代理机构 ：
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 ：
徐科飞
优先权 ：
CN202122919630.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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