一种芯片检测用可调节的支架
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片检测用可调节的支架,具体涉及芯片检测支架调节技术领域,现有的支架,在使用时,无法根据不同身高的人进行相应的高度调节,存在局限性,包括支架中空底座,支架中空底座的内腔设有升降机构,且升降机构上设有连接板,连接板上设有夹持机构,且夹持机构上夹持有放置腔,放置腔的内腔放置有芯片,先把芯片放到放置腔内,通过夹持装置夹持固定,电机会带动第一转动轮转动,第一转动轮通过皮带带动第二转动轮转动,第二转动轮通过连接柱带动双向螺纹杆转动,双向螺纹杆带动两个螺纹套相向移动,螺纹套通过连接杆带动连接板移动,连接板通过夹持机构带动放置腔移动,以便于不同身高的人进行检测。
基本信息
专利标题 :
一种芯片检测用可调节的支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122932431.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216525931U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
徐恩
申请人 :
苏州英诺飞芯工业科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中区经济开发区南官渡路521号5幢405室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122932431.X
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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