本实用新型公开了一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，包括箱体，所述箱体上下两侧内壁均转动设有转盘，两个转盘之间固定设有一个放置架，且放置架等距设有多个放置槽，放置槽内设有夹紧机构，所述箱体上部设有吹热风机构，箱体下部固定设有底座，且底座内顶壁螺栓固定有电机，电机输出端穿过箱体底壁与其中一个转盘同轴键连接，箱体一侧外壁固定连接有蒸汽发生器，蒸汽发生器，箱体内一侧固定设有输气管，且输气管通过软管与蒸汽发生器相连接。本实用新型，放置架可以转动，实现对电子产品的旋转，使得对电子产品的均匀覆盖，提高测试精度，进一步提高电子产品的受潮均匀度，同时不影响放置架旋转，设计合理，成本较低。