汇聚折转光路中平面反射镜的空间位姿定位方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种汇聚折转光路中平面反射镜的空间位姿定位方法,解决平面反射镜起汇聚光束作用时,还需精密测量定位其空间坐标位置,但现有测量定位精度低、易产生划伤镜面风险的问题。该方法通过空间坐标测量设备、显微镜、自准直经纬仪结合辅助球面反射镜对汇聚光路中平面反射镜进行高精度的空间位姿坐标定位和测量,具体步骤为:1)通过空间坐标测量设备建立统一空间坐标系;2)结合测量靶球对辅助球面反射镜球心点进行定位标记,精确定位辅助球面反射镜;3)利用显微镜和自准直经纬仪进行基准传递和平面反射镜的空间位姿测量,精确定位平面反射镜。
基本信息
专利标题 :
汇聚折转光路中平面反射镜的空间位姿定位方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114488521A
申请号 :
CN202210002768.7
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
付西红沈重史元元杨豪宋兴侯晓华雷昱冀彬栋
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
董娜
优先权 :
CN202210002768.7
主分类号 :
G02B27/00
IPC分类号 :
G02B27/00 G02B27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B27/00
不能分入G02B 1/00-G02B 26/00,G02B 30/00的其它光学系统或其它光学仪器
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 27/00
申请日 : 20220104
申请日 : 20220104
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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