一种基于差分测试和嵌入模型的知识图谱评估方法
公开
摘要
本发明涉及知识图谱质量评估领域，提供一种基于差分测试和嵌入模型的知识图谱评估方法。该方法基于变异测试的思想，变异生成可代表知识图谱数据中典型错误的三元组，并将其作为输入重训练出对知识图谱典型错误敏感的优化嵌入模型。该方法还基于差分测试的思想，输入普通知识图谱数据获取不同优化嵌入模型的输出，根据相似性评估保证输出的一致性和有效性；从而可通过符合相似性评估的输出结果再使用投票策略，最终计算出符合实际的质量评估指标。本发明目的在于解决目前存在的知识图谱质量评估人工成本高，耗时长且缺失自动化评估方法和过程的难题，进而帮助评估人员快速地对知识图谱质量进行了解并在短时间内获取可靠的知识图谱评估结果。
基本信息
专利标题 ：
一种基于差分测试和嵌入模型的知识图谱评估方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114579753A
申请号 ：
CN202210052086.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯洋孙静玉谭嘉俊刘子夕陈振宇徐宝文
申请人 ：
南京大学
申请人地址 ：
江苏省南京市栖霞区仙林大道163号计算机科学与技术系819
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210052086.7
主分类号 ：
G06F16/36
IPC分类号 ：
G06F16/36 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F16/36
••语义工具的产生,例如,本体论或词典
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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