一种基于零椭偏暗场照明的散射干涉成像系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于零椭偏暗场照明的散射干涉成像系统及方法,包括照明光路,探测光路和参考光路,所述照明光路的入射端设置有被检测样品,所述探测光路的发射端设置有被检测样品,所述参考光路的入射端设置有所述探测光路;所述照明光路和所述探测光路的连接处设置有零椭偏模块,所述零椭偏模块的一端与照明光路连接,所述零椭偏模块的另一端与探测光路连接。本发明通过照明光路与探测光路的非共路设计,实现对背景杂散光的有效抑制,降低检测系统对探测物镜数值孔径的依赖;同时,结合干涉探测的优势,实现对被检测样品表面小尺寸特征的宽视场高灵敏检测能力。

基本信息
专利标题 :
一种基于零椭偏暗场照明的散射干涉成像系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114371148A
申请号 :
CN202210057225.5
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2022-01-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
庞陈雷杨青王智陆宏杰罗志荣王兴锋刘旭
申请人 :
之江实验室
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区之江实验室南湖总部
代理机构 :
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
奚丽萍
优先权 :
CN202210057225.5
主分类号 :
G01N21/47
IPC分类号 :
G01N21/47  G01N21/45  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/47
申请日 : 20220119
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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