解理装置
公开
摘要
本发明提供了一种解理装置,解理装置用于对样品进行解理,样品包括样品基底和粘接在样品基底上的粘棒,包括:样品托组件,用于固定样品基底;撞击部,设置在样品托组件上,撞击部能够在样品托组件上移动;其中,移动撞击部能够撞击粘棒,以将粘棒从样品基底上敲掉。基于本发明的技术方案,通过旋转撞击部的方式撞击粘棒,以使粘棒从样品基底上敲击脱落。与相关技术中,通过整体移动样品托和其上方的样品使得粘棒碰到刀口后从样品基底上脱落的方式相比,避免了样品基底在移动过程中样品托或样品基底脱落的问题。从而提高了解理装置工作的稳定性和可靠性。
基本信息
专利标题 :
解理装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577831A
申请号 :
CN202210094121.1
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-01-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王政领李浩
申请人 :
中科艾科米(北京)科技有限公司
申请人地址 :
北京市怀柔区雁栖经济开发区兴科东大街11号院7号楼南端一至二层
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN202210094121.1
主分类号 :
G01N23/20008
IPC分类号 :
G01N23/20008 G01N23/2202 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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