PCB缺陷检测模型训练方法、装置、电子设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种PCB缺陷检测模型训练方法、装置、电子设备和存储介质,通过采集PCB的表面图像,对表面图像进行预处理得到表面缺陷图像,对表面缺陷图像中的缺陷进行标注,得到标注信息。将携带标注信息的表面缺陷图像划分为训练图像和测试图像,利用携带标注信息的训练图像对构建的神经网络模型进行训练,并利用测试图像队训练得到的神经网络模型进行测试,在测试结果满足预设要求时,停止训练并得到用于进行PCB表面缺陷检测的检测模型。该方法利用标注的表面缺陷图像训练得到模型,得到的模型可以用于后续的缺陷检测应用中,可以提高检测准确度的同时,提高检测方案的泛化性。

基本信息
专利标题 :
PCB缺陷检测模型训练方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114494223A
申请号 :
CN202210123688.7
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
牟许东余建波程训
申请人 :
北京航空航天大学杭州创新研究院
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区长河街道创慧街18号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
杜杨
优先权 :
CN202210123688.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06K9/62  G06V10/774  G06V10/764  G06V10/80  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220210
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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