本发明公开了一种电子芯片生产加工用电参数测试机，包括机台，所述机台上设有检测架，所述检测架上安装有检测探针，所述检测架的侧壁上安装有抓取组件，所述抓取组件包括转筒、多个固定杆、多个转动杆及多个吸盘，所述检测架的侧壁开设有驱动槽，所述驱动槽内安装有驱动转筒转动的驱动装置；所述转筒转动连接在检测架的侧壁上，多个所述固定杆等间距固定连接在转筒的侧壁上，所述固定杆的侧壁开设有转槽。本发明在吸盘抓取晶圆进行检测时，可使固定杆及转动杆保持固定相连的直线状态，而在吸盘放置晶圆时，则解除固定杆及转动杆的固定连接，转动杆将在重力作用下自然下垂，如此可使晶圆平落在放置板上而不会发生滚落。