本申请涉及一种物理量的检测装置，包括至少一组检测单元；每组检测单元包括两个检测芯片；每个检测芯片包括至少一对霍尔元件、集磁片、霍尔载板、第一封装体、第二封装体和副边框架；集磁片为对称结构体；集磁片设置在霍尔载板上；霍尔载板固定在副边框架上；每对霍尔元件中的两个霍尔元件分别设置在集磁片上的两个互为对称位置；至少一对霍尔元件、霍尔载板、副边框架封装于第一封装体上形成检测芯片的结构体；每组检测单元在平面内相对于预设坐标轴对称设置，不同组检测单元在平面内相对于不同预设坐标轴对称设置；所有组检测单元封装于第二封装体上形成目标物理量的检测装置的结构体。采用本申请提供的物理量的检测装置可以物理量的检测精度。