用于检测物理量分布的半导体设备及电子装置
授权
摘要
一种模数转换方法，用于将一种差值信号分量转换成数字数据，所述差值信号分量表示将要被处理的模拟信号中的参考分量和信号分量之差，在第一处理中，将相应于参考分量和信号分量之一的信号与用于转换成数字数据的参考信号进行比较。在比较的同时以递减计数模式和递增计数模式之一执行计数，并在比较结束时保持计数值。在第二处理中，将相应于参考分量和信号分量中的另一个分量的信号与参考信号进行比较。在比较的同时以递减计数模式和递增计数模式中的另一种模式执行计数，并在比较结束时保持计数值。
基本信息
专利标题 ：
用于检测物理量分布的半导体设备及电子装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1783958A
申请号 ：
CN200510131586.6
公开（公告）日 ：
2006-06-07
申请日 ：
2005-11-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
村松良德福岛范之新田嘉一安井幸弘
申请人 ：
索尼株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
郭定辉
优先权 ：
CN200510131586.6
主分类号 ：
H04N5/335
IPC分类号 ：
H04N5/335 H04N3/15
法律状态
2010-08-11 ：
授权
2006-08-02 ：
实质审查的生效
2006-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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