物理量的检测装置
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种物理量的检测装置，包括：至少一个霍尔单元、集磁片、霍尔载板、封装体和副边框架；集磁片为对称结构体；每个霍尔单元包括第一霍尔元件和第二霍尔元件，集磁片设置在霍尔载板上；霍尔载板固定在副边框架上；不同的霍尔单元设置在集磁片上的不同位置；第一霍尔元件和第二霍尔元件分别设置在集磁片上的两个互为对称位置；所有霍尔单元、霍尔载板、副边框架封装于封装体上形成目标物理量的检测装置的结构体；目标物理量为位移和/或角度。采用本申请提供的物理量的检测装置可以兼容位移检测和角度检测，解决现有技术测量单一物理量的问题。
基本信息
专利标题 ：
物理量的检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114543647A
申请号 ：
CN202210153606.3
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘春森钟小军
申请人 ：
江苏兴宙微电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市惠山经济开发区堰新路311号3号楼0301、0302室
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴迪
优先权 ：
CN202210153606.3
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02 G01B7/30 G01D5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/02
申请日 : 20220218
申请日 : 20220218
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
