一种集成电路安全检测系统
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种集成电路安全检测系统,包括:高精密电阻模块、信号放大模块和处理器,高精密电阻模块包括高精密电阻,处理器与待测集成电路连接,用于运行集成电路安全检测策略,高精密电阻模块连接待测集成电路,高精密电阻模块还连接信号放大模块,信号放大模块,用于放大高精密电阻的电压,信号放大模块连接示波器。即提供专门针对集成电路安全检测的硬件平台,能更好适应目前集成电路安全检测的需要,减少不需要的模块,通过增加了高精密电阻模块和信号放大模块,精确测量和放大高精密电阻的电压值,从而可以根据高精密电阻的微小的电压值的变化准确的进行观测分析待测集成电路中是否存在木马电路,提高了集成电路安全检测的可靠性和效率。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路安全检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509979A
申请号 :
CN202210163824.5
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
龚关飞李莹陈岚
申请人 :
中国科学院微电子研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
柳虹
优先权 :
CN202210163824.5
主分类号 :
G05B19/042
IPC分类号 :
G05B19/042  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制;调节
G05B
一般的控制或调节系统;这种系统的功能单元;用于这种系统或单元的监视或测试装置
G05B19/00
程序控制系统
G05B19/02
电的
G05B19/04
除数字控制外的程序控制,即顺序控制器或逻辑控制器
G05B19/042
使用数字处理装置
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G05B 19/042
申请日 : 20220222
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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