一种光电探测器阵列的标定方法及其系统
公开
摘要
本发明属于光电测量领域，特别涉及一种光电探测器阵列的标定方法及其系统。所述标定方法包括以下步骤：步骤S1：根据太阳的运动轨迹转动光电探测器阵列，使得所述靶面始终与太阳光成预定角度；步骤S2：测量光电探测器阵列中各探测单元的响应度，得到光电探测器阵列的响应度矩阵；步骤S3：根据响应度矩阵来检测光电探测器阵列中有无损坏单元；步骤S4：根据响应度矩阵对光电探测器阵列进行一致性标定。通过本发明可以实现对太阳光的实时追踪，实现不同入射角度下的响应度一致性标定。
基本信息
专利标题 ：
一种光电探测器阵列的标定方法及其系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577336A
申请号 ：
CN202210182456.9
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
侯再红秦来安张巳龙何枫罗杰
申请人 ：
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 ：
安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
代理机构 ：
合肥市上嘉专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭华俊
优先权 ：
CN202210182456.9
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01S19/39 G01S19/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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