一种基于深度学习的磁芯缺陷检测系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种基于深度学习的磁芯缺陷检测系统及方法,该方法中,首先采样模块对磁芯进行采样,将采样得到的图像经过预处理保存到数据库,然后对图像进行标注制作成数据集,接着进行训练,生成模型。将训练得到的模型导入实时检测模块,可以对生产线上的磁芯进行实时缺陷检测,外设分拣机构根据缺陷检测的结果对磁芯进行分拣。检测结束后,会将检测的结果包括相关缺陷指标进行统计分析,生成相应的检测报表。本发明基于深度学习和传统图像处理的算法检测精度更高;结合全监督和半监督两种训练模式,使得模型训练更加容易。并且集成采样,标注,训练,实时检测,智能分拣等一系列功能,系统集成度更高,可用性更强。

基本信息
专利标题 :
一种基于深度学习的磁芯缺陷检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114549493A
申请号 :
CN202210186081.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈科宇雷雅彧刘鹏飞翁扬凯吴帅杰王宪保
申请人 :
浙江工业大学
申请人地址 :
浙江省杭州市下城区潮王路18号
代理机构 :
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 :
贾玉霞
优先权 :
CN202210186081.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/13  G06T7/155  G06T7/168  G06T7/11  G06T7/136  G06V10/25  G06V10/764  G06V10/774  G06V10/82  G06N3/04  G06N3/08  G06K9/62  B07C5/34  B07C5/36  B07C5/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220228
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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