一种口罩缺陷检测装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及口罩生产技术领域,具体涉及一种口罩缺陷检测装置及方法,包括装置机柜,装置机柜上分别安装有:上料机构,提供待检测口罩;三段式皮带线输送机构,输送待检测口罩;图像采集机构,采集待检测口罩图像;图像处理软件,按照预设的口罩标准以及检测算法对所采集口罩图像进行判断并给出良品或不良品结果;剔除机构,对图像处理软件给出的不良品进行剔除;控制系统,用于电气连接上料机构、输送机构、图像采集机构、图像处理软件和剔除机构。本发明提供的口罩缺陷检测方法使用传统BLOB检测方法和深度学习方式结合,完成所有待检测项的检测,检测方法的稳定性高,检测效率高,检测精度高,使得经过装置检测后的产品质量有保障。
基本信息
专利标题 :
一种口罩缺陷检测装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527075A
申请号 :
CN202210188343.X
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨柏松艾亚辉朱涛
申请人 :
中科芯集成电路有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区蠡园开发区04-6地块(滴翠路100号)9幢2层
代理机构 :
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郑婷婷
优先权 :
CN202210188343.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/892 B07C5/342 B07C5/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20220228
申请日 : 20220228
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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