本发明提供一种多参数霍尔集成电路高低温测试方法、装置及存储介质，接收用户的多参数温度数据，基于最高温参数值、最低温参数值以及精密度信息值生成温度变化率；将霍尔集成电路置于高低温试验箱内进行测试，基于温度变化率对霍尔集成电路所处的温度环境进行控制，对霍尔集成电路在每个时刻输出的测试电能信息进行采集生成电能时间序列，对高低温试验箱内每个时刻的温度信息进行采集生成温度时间序列；根据预设温度点确定温度时间序列相对应的第一时刻，确定电能时间序列中与第一时刻对应的第二时刻；提取电能时间序列中与所述第二时刻对应的测试电能信息，若判断所有测试电能信息与相应的标准电能信息相对应，则霍尔集成电路通过高低温测试。