产品缺陷严重程度测量方法及系统及装置及介质
公开
摘要
本发明公开了产品缺陷严重程度测量方法及系统及装置及介质，涉及智能工业制造领域，包括：构建产品缺陷识别模型；获得产品的第一图片；将所述第一图片进行二值化处理获得第二图片；提取出第二图片中的电极线，获得第三图片；将所述第一图片输入所述产品缺陷识别模型，获得产品的缺陷位置信息；基于所述第二图片、所述第三图片和所述缺陷位置信息获得缺陷位置对应的缺陷二值图；基于所述缺陷二值图计算获得缺陷宽度；基于所述第三图片获得电极线宽度；基于所述缺陷宽度与所述电极线宽度计算获得缺陷严重值，基于所述缺陷严重值判断获得产品缺陷严重程度；本发明能够对产品的缺陷程度进行准确的测量。
基本信息
专利标题 ：
产品缺陷严重程度测量方法及系统及装置及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627114A
申请号 ：
CN202210515314.X
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-05-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
成都数联云算科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区吉泰五路88号3栋5层8号、9号
代理机构 ：
成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
熊曦
优先权 ：
CN202210515314.X
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/194 G06T7/70 G06N3/04 G06K9/62 G01N21/88 G06V10/774 G06V10/82
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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