本实用新型公开一种集成电路检测机。本实用新型涉及集成电路芯片测试设备技术领域。该集成电路检测机包括：测试主机、加热头、连接组件、护罩、软管以及软管防护组件。软管设置在软管防护组件内部，在调节测试主机、加热头之间的角度时，软管防护组件可随着连接组件同步转动，在测试主机产生的气流通过软管传输，最终通过加热头向护罩内的待测试集成电路芯片进行温度冲击测试时，软管受气流产生振动以及在调节加热头与测试主机之间的角度时，可避免软管与连杆组件之间发生摩擦导致软管磨损以及软管暴漏在外部导致受到外界因素导致软管的磨损，避免软管暴漏在外部导致在操作人员接触时造成不适。