一种新的高斯光束判别测量法及仪器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提出了一种高斯光束判别和测量的新方法，并据此法设计了一台新型的高斯光束判别测量仪器。此方法，仅须在光束截面内，对任意等距四个坐标点同时进行采光测量即可差别该光束是否为高斯光束；如为高斯光束，则仅利用其中等距三个坐标点的光强信息而测出该高斯光束的束径及径向强度分布。所设计的仪器能打印、显示和图示该光束的径向强度分布并给出高斯光束的束径和径向强度分布。
基本信息
专利标题 ：
一种新的高斯光束判别测量法及仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107992A
申请号 ：
CN86107992.2
公开（公告）日 ：
1988-06-08
申请日 ：
1986-11-28
授权号 ：
CN1013406B
授权日 ：
1991-07-31
发明人 ：
朱延彬沈孝纬
申请人 ：
中国科学院安徽光学精密机械研究所
申请人地址 ：
安徽省合肥市25信箱
代理机构 ：
中国科学院合肥专利事务所
代理人 ：
周国城
优先权 ：
CN86107992.2
主分类号 ：
G01J1/00
IPC分类号 ：
G01J1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
法律状态
1993-10-06 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-06-17 ：
授权
1991-07-31 ：
审定
1990-04-11 ：
实质审查请求
1988-06-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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